簡述

1、移動式

2、SDD探測器

3、閉合光束

4、攝像頭

技術規(guī)格

貴金屬無損檢驗與黃金純度辨別

Innov-X XRF貴金屬分析儀為您提供快速 , 準確的分析結果

X射線熒光分析法是經實踐證明且被人們接受的無損檢測法，現已被廣泛應用于貴金屬產品化學成分和克拉分析，金制品相對純度及成色分析。傳統的分析方法例如試金石方法、灰吹法、火試金法、硝酸檢驗及其它分析方法屬于破壞分析，不但具有消耗性和危險性，且樣品的制備過程耗時更長，與傳統的制備過程耗時更長測試法相比，XRF貴金屬分析儀為您的黃金，銀，鈀，鉑金及其它貴金屬提供了一種相對便宜，快速，并能在現場分析的簡單且易于操作的測試方法，從而彰顯商家的誠信，瞬間增強客戶的信心。

 鑒于目前的高，量化其精度和純度比以往任何時候都更為重要。無論您是黃金購買、出售、生產、回收等貴金屬行業(yè)，您都需要一個快速，高度精確的方法來確認黃金純度(黃金含量)，以達到監(jiān)控質量和定價的目的。

 Innov-X XRF貴金屬分析儀可在現場快速準確地獲得合金化學成份，確認其克拉等級，易于使用，且無需損壞被測樣品，性價比高，樣品的形態(tài)包括固體、粉末與液體。

選擇Innov-X XRF貴金屬分析儀的原因

● 一次測試可以分析眾多的貴金屬與雜質元素

Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ir, Pt, Au, Rh, Ru, Pb, Bi, Zr, Pd, Ag, Sn, Sb, Cd

● SDD配置可以分析Os等元素

● 設計緊湊，有便攜式、移動式等各種款式

● 儀器易于使用，只需一按按鍵，立刻獲得克拉數與產品成分分析結果

● 僅需數秒，即可獲知準確的貴金屬制品化學成份與貴金屬純度

● 通過（可選的）電腦軟件，可快速方便地獲取檢驗報告

● 移動式貴金屬檢測儀樣品室透明窗口設計結合內置燈光系統使得您可以通過樣品室窗口清楚地看到被測物品，大限度地確保了您的財產安全

● 便攜式可以檢測超大型，不受尺寸限制的樣品

● 充電電池（選配件）支持室外檢測，如果您需要帶著我們的儀器去拜訪您的客戶或供貨商，您可以選購充電電池，我們的儀器可以隨時隨地提供準確，快速的檢測結果

● 讓您可以通過網絡同步獲取分析儀的各種檢測數據

● 產品采用內置X射線系統，外帶加鉛保護外殼；只需最少量的培訓（因國家而異），即可安全操作.

Innov-X XRF貴金屬分析儀為您提供以下參考：

● 更快更準確地為黃金交易價格提供有力的參考

● 可識別，銀，鉑金，及其它一系列合金產品

● 辨別產品中的雜質元素

● 精煉與熔煉的質量控制

清晰地鎖定每一個測試點

Innov-X XRF貴金屬檢測儀配備內置CMOS攝影頭，捕捉實時影像，同時存儲圖片信息為您的報告提供影像證據。配置X 射線準直器，便于測量小零件和樣品。簡單一按按鍵，即能激活直徑為 3 毫米的準直器；顯示屏同步顯示準直器鎖定分析點。準直器可以很容易地切換到直徑10毫米的標準分析點。

定制報告

數據可以便捷地下載為電子表格各式。 同時，當XRF貴金屬分析儀通過Windows Ce運行系統連接網絡，所有的檢驗記錄均可以被遠程查詢。定制報告包括分析結果被檢測樣品的圖像，公司標志和更多信息，通過WindowsCE運行系統，只需要一按鍵，定制報告即能

產生。

操作簡單，數據可靠

Innov-X XRF貴金屬分析儀是當鋪，現金換黃金業(yè)務，珠寶行業(yè)，博物館，考古現場，硬幣收藏，廢鋼回收及其他行業(yè)的理想配備儀器。

主要應用

● 黃金成分現場分析，（0-24K金）

● 雜質成分分析

● 鉑金，銀及其他貴金屬的精準成分分析

● 黃金樣品中的銀含量和其他金屬含量的分析

● 貴金屬的廢舊回收含量分析

● 硬幣的黃金含量分析

● 牙科合金的分析

● 無損測試

特點與優(yōu)點

● 大功率電子x射線管，可提供可靠和精準的黃金分析

● 速度- 僅需數秒即可獲得結果

● 便攜- 移動輕巧的可充電式電池支持儀器隨時隨地提供檢測

● 即使樣品的形狀大小各異，簡易、準確地檢測確保檢驗結果

● 自動克拉確認系統

● 大容量數據儲存功能，可儲存數據以備將來查閱

● 快捷的數據輸出及表格生成功能便于獲得同步認證報告

● 內置攝影機與微直徑準直器便于鎖定測試點，并為您的報告提供影像證據

Innov-X XRF貴金屬分析儀能穩(wěn)定可靠

現今社會，現場、快速、無損、準確的結果比以往任何時候都更為重要；Innov-X XRF貴金屬分析儀提供的精度和準確度。它可為您提供實時分析結果，讓您可以即時驗證您的黃金與貴金屬制品的成色，且操作簡單。以下有關準確度與精密度的數據是由配備Si-Pin探測器的Innov-XXRF貴金屬分析儀所產生。這些數據也代表了配備Si-Pin探測器的儀器一般性能。