| 深圳市蘭格威科技有限公司
主營產(chǎn)品：Langer近場探頭，前置放大器，Beehive 近場探頭，Beehive 放大器 ，Erika Fiedler EMC測試周邊 ，Micro-Tronics濾波器，EMCTD LCC 場強計，F(xiàn)il ... |
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主營產(chǎn)品：Langer近場探頭，前置放大器，Beehive 近場探頭，Beehive 放大器 ，Erika Fiedler EMC測試周邊 ，Micro-Tronics濾波器，EMCTD LCC 場強計，F(xiàn)il ... |
| 參考價 | ￥ 48500 |
| 訂貨量 | 1 件 |
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更新時間：2023-02-13 20:02:15瀏覽次數(shù)：1589
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Langer E1 抗干擾開發(fā)系統(tǒng)
基本功能及使用目的：
E1抗干擾性開發(fā)系統(tǒng)是一套集成電路板開發(fā)過程中進行抗干擾分析的 EMC工具系統(tǒng)。采用E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)，能夠快速精準地定位脈沖群干擾和靜電放電干擾的原因（薄弱點），使工程師開發(fā)人員能夠準確針對薄弱點設(shè)計恰當?shù)?EMC措施，并且使用 E1 評估 EMC措施的效果。E1 檢測設(shè)備的搭建空間小，適宜于在電子元件開發(fā)人員的工作場地使用。E1 用戶手冊對EMC工作機制以及集成電路板去干擾的基本測量策略作出詳細描述。E1 組套包括一個脈沖群干擾和靜電放電干擾發(fā)生器、九種不同的電場和磁場源、以及其他各類附件。
Langer E1 抗干擾開發(fā)系統(tǒng)
產(chǎn)品：
如果電子模塊和設(shè)備在burst和ESD脈沖測試中發(fā)生功能失效，那么被測設(shè)備（EUT）必須進行修改。E開發(fā)系統(tǒng)被用于快速和精確的確定EUT內(nèi)功能失效的原因，用戶能夠找出多少以及為什么獨立的導線和元件被影響，這允許用戶直接在電路上或在布局布線中進行zui適宜的糾正行為。SGZ 21 burst產(chǎn)生器可以產(chǎn)生必須的測試脈沖，這些脈沖通過導線連接或通過磁場或電場源被耦合到EUT中，在測試過程中，通過一個傳感器和EUT內(nèi)部測量得到的干擾電流，信號可以被監(jiān)視。
Langer E1 抗干擾開發(fā)系統(tǒng)
基本配置
Burst產(chǎn)生器SGZ 21
帶有OFP的EMC傳感器S31
磁場探頭MS 02
磁場源探頭BS02
磁場源探頭BS 04 DB
磁場源探頭BS 05 D
磁場源探頭BS 05 DU
電場源探頭ES 00
電場源探頭ES 01
電場源探頭ES 02
電場源探頭ES 05 D
電場源探頭ES 08 D
附件
使用說明
帶有泡沫塑料填充的包裝箱
